SGW X-5 顯微熔點儀
產品簡介 ·?采用PID溫度調節技術，控制測量溫度的變化。 ·?采用顯微攝像頭和彩色液晶觸摸屏，將樣品在顯微鏡下的融化過程直觀地顯示在屏幕上，用戶能更清晰地觀察和掌控測量過程。 ·?測量的溫度值（初熔、終熔）數據可存儲，方便用戶隨時查看。 ·?測試結果可以通過USB接口傳輸至PC機進行處理，也可以連接微型打 印機打印測試結果。 ·?儀器具有毛細管法/熱臺法兩種熔點測量方法，可測固體和粉末樣品, 滿足不同用戶需求。
技術參數
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SGW? X-5 顯微熔點儀 上海儀電物理光學儀器有限公司 市場價9576元
| 數量 | 優惠價格 |
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上海儀電物理光學儀器有限公司
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SGW? X-5 顯微熔點儀
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聯系人：楊淋
SGW X-5 顯微熔點儀
產品簡介
·?采用PID溫度調節技術，控制測量溫度的變化。
·?采用顯微攝像頭和彩色液晶觸摸屏，將樣品在顯微鏡下的融化過程直觀地顯示在屏幕上，用戶能更清晰地觀察和掌控測量過程。
·?測量的溫度值（初熔、終熔）數據可存儲，方便用戶隨時查看。
·?測試結果可以通過USB接口傳輸至PC機進行處理，也可以連接微型打 印機打印測試結果。
·?儀器具有毛細管法/熱臺法兩種熔點測量方法，可測固體和粉末樣品, 滿足不同用戶需求。
技術參數
儀器型號
SGW X-5
測量范圍
室溫~360℃
測量方法
20x變焦
最小示值
0.1℃
升溫速率
0.2℃/min、0.5℃/min、1.0℃/min、1.5℃/min 、
2.0℃/min、3.0℃/min、4.0℃/min、5.0℃/min
示值誤差
毛細管法
≤200℃：±0.4℃；>200℃：±0.7℃
熱臺法
室溫～100℃：±0.4℃；
100℃～200℃：±0.6℃；
200℃～300℃：±0.8℃
示值重復性
升溫速率為1.0℃/min時，標準偏差0.3℃
線性升溫速率誤差
±10%
毛細管尺寸
外徑?1.4mm、內徑?1.0mm、長度90mm
樣品高度
3mm
載玻片/蓋玻片尺寸
載玻片：76.2mm x 25.4mm x 0.8mm；
蓋玻片：18.0mm x 18.0mm x 0.17mm
視場直徑
?2.0mm
數據儲存
1000組
顯示方式
7寸TFT觸摸屏
校準方式
多點校準
通信接口
USB（連接上位PC機），U盤
打印機型號
選配：針式打印機RD-TH24-SC
電源
220V±22V，50Hz±1Hz，150w
儀器尺寸
310mm×230mm×505mm
儀器凈重
6.0Kg
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